Підготовчі курси (за програмою ЗНО)
Всеукраїнська олімпіада  Львівської політехніки
 

Науковці з усієї України обговорили метрологічні аспекти на конференції у Славську

5 лютого 2019, 11:53
Ірина МАРТИН, Тижневик «Аудиторія»

Відбулася V Науково-технічна конференція у царині метрології Technical Using of Measurement 2019. Її організатори ― Академія метрології України, Львівська політехніка, Київська політехніка, Науково-дослідний інститут метрології вимірювальних і управляючих систем «Система».

На це наукове зібрання прибуло 80 учасників з університетів та інституцій Києва, Львова, Івано-Франківська, Вінниці, Харкова, а також Опольської політехніки (Польща). Під час чотириденних засідань було виголошено близько 30 пленарних та стендових доповідей. Їхня тематика охоплює питання технічного забезпечення вимірювань промисловості під час розроблення та експлуатації продукції, щоб забезпечити якість продукції та її конкурентоспроможність.

У рамках конференції також відбувся семінар щодо аспектів метрологічних вимог. Його провела очільниця Інституту підвищення кваліфікації метрологів Академії метрології України Ольга Малецька.

― Хочеться виділити доповідь директора ІКТА Миколи Микийчука про перспективи підготовки фахівців з метрології та інформаційно-вимірювальної техніки, харківської професорки Наталії Косач про гносеологічні аспекти технічного регулювання забезпечення якості продуктів, генерального директора НДІ «Система» Василя Паракуди про забезпечення якості та простежуваності вимірювань в Україні ультразвукового тиску у водному середовищі, а також івано-франківського професора Ігоря Петришина про впровадження схем простежуваності в метрологічну практику в Україні, ― розповідає співголова оргкомітету конференції, професор кафедри ІВТ Василь Яцук.

Науковці-метрологи обговорили питання теорії та практики вимірювань і випробувань, застосування інформаційно-вимірювальних технологій у промисловості, методи та засоби контролю та діагностування, метрологічне забезпечення вимірювань та випробувань, кваліметрію, автоматику та прилади.

Заплановано, що наступна метрологічна конференція буде міжнародна й у ній візьмуть участь фахівці з різних країн.